7.7 X射线荧光分析方法测定结果的重复性限和再现性限
《射线荧光分析方法测定结果的重复性限和再现性限》见表4。
表4 X射线荧光分析方法测定结果的重复性限和再现性限
| 成 分 |
含量范围 (%) |
重复性限 (%) |
再现性限 (%) |
| SiO2(二氧化硅) | 0.20 | 0.30 | |
| ≤0.50% | O.10 | 0.15 | |
| Fe2O3(三氧化二铁) | 0.50%<Fe2O3≤5% | 0.15 | 0.20 |
| >5% | 0.20 | 0.30 | |
| AL2O3(三氧化二铝) | 0.20 | 0.30 | |
| CaO(氧化钙) | 0.25 | 0.40 | |
| MgO(氧化镁) | ≤2% | 0.15 | 0.25 |
| >2% | 0.20 | 0.30 | |
| SO3(硫酸盐三氧化硫) | 0.15 | 0.20 | |
| K2O(氧化钾) | 0.10 | 0.15 | |
| Na2O(氧化钠) | 0.05 | 0.10 | |
| TiO2(二氧化钛) | 0.05 | 0.10 | |
| Cl-(氯离子) | ≤0.10% | 0.005 | 0.010 |
| >0.10% | 0.010 | 0.015 | |
| P2O5(五氧化二磷) | 0.05 | 0.10 | |
| Sr0(氧化锶) | 0.03 | 0.05 |
